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标准编号标准名称出版社发布日期状态
YS/T226.4-2009(2017年复审) 硒化学分析方法第4部分:汞量的测定双硫腙-四氯化碳滴定比色法   2010-06-01 现行
YS/T226.13-2009(2017年复审) 硒化学分析方法第13部分:银、铝、砷、硼、汞、铋、铜、镉、铁、镓、铟、镁、镍、铅、硅、锑、锡、碲、钛、锌量的测定电感耦合等离子体质谱法   2010-06-01 现行
YS/T226.12-2009(2017年复审) 硒化学分析方法第12部分:硒量的测定硫代硫酸钠容量法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
YS/T519.4-2009(2017年复审) 砷化学分析方法第4部分:铋、锑、硫量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法   2010-06-01 现行
YS/T519.1-2009(2017年复审) 砷化学分析方法第1部分:砷量的测定溴酸钾滴定法   2010-06-01 现行
GB/T19922-2005 硅片局部平整度非接触式标准测试方法 中国标准出版社 2006-04-01 现行
GB/T8760-2006 砷化镓单晶位错密度的测量方法 中国标准出版社 2006-11-01 现行
GB/T26067-2010 硅片切口尺寸测试方法   2011-10-01 现行
GB/T5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 中国标准出版社 2006-11-01 现行
GB/T19199-2015 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法   2016-07-01 现行
YS/T519.3-2009(2017年复审) 砷化学分析方法第3部分:硫量的测定硫酸钡重量法   2010-06-01 现行
GB/T19921-2005 硅抛光片表面颗粒测试方法 中国标准出版社 2006-04-01 现行
YS/T987-2014(2017年复审) 氯硅烷中碳杂质的测定方法甲基二氯氢硅的测定   2015-04-01 现行
GB/T8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 中国标准出版社 2006-11-01 现行
GB/T24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法   2017-01-01 现行
GB/T35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程   2018-07-01
GB/T35306-2017 硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法   2018-07-01
YS/T34.1-2011(2017年复审) 高纯砷化学分析方法电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量   2012-07-01 现行
YS/T34.2-2011(2017年复审) 高纯砷化学分析方法极谱法测定硒量   2012-07-01 现行
GB/T4060-2007 硅多晶真空区熔基硼检验方法 中国标准出版社 2008-02-01 现行
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