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标准编号标准名称出版社发布日期状态
GB/T1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T6617-2009 硅片电阻率测定扩展电阻探针法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T6619-2009 硅片弯曲度测试方法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T30652-2014 硅外延用三氯氢硅 中国标准出版社 2015-09-01 现行
GB/T14139-2009 硅外延片 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T14844-1993 半导体材料牌号表示方法 中国标准出版社 1994-09-01 现行
GB/T14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T14146-2009 硅外延层载流子浓度测定汞探针电容-电压法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
YS/T43-2011(2017年复审) 高纯砷   2012-07-01 现行
GB/T24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T24579-2009 酸浸取原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法   2011-10-01 现行
GB/T26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法   2011-10-01 现行
GB/T26072-2010 太阳能电池用锗单晶 中国标准出版社 2011-10-01 现行
GB/T26069-2010 硅退火片规范   2011-10-01 现行
GB/T26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片   2011-10-01 现行
GB/T24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法 中国标准出版社 2010-06-01 现行
GB/T24577-2009 热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物 中国标准出版社 2010-06-01 现行
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