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找到30条记录，共2页
标准编号
标准名称
出版社
发布日期
状态
YS/T989-2014(2017年复审)
锗粒
2015-04-01
现行
GB/T29504-2013
300mm硅单晶
中国标准出版社
2014-02-01
现行
GB/T29849-2013
光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
中国标准出版社
2014-04-15
现行
GB/T6620-2009
硅片翘曲度非接触式测试方法
中国标准出版社
2010-06-01
现行
YS/T15-2015(2017年复审)
硅外延层和扩散层厚度测定磨角染色法
2015-10-01
现行
GB/T35310-2017
200mm硅外延片
2018-07-01
GB/T35307-2017
流化床法颗粒硅
2018-07-01
SJ20719-1998
碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法
1998-05-01
SJ20718-1998
碲镉汞晶体中痕量元素的测定方法
1998-05-01
GB/T29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
中国标准出版社
2014-04-15
现行
GB/T12962-2015
硅单晶
2017-01-01
现行
GB/T19199-2015
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
2016-07-01
现行
GB/T29506-2013
300mm硅单晶抛光片
中国标准出版社
2014-02-01
现行
GB/T29850-2013
光伏电池用硅材料补偿度测量方法
中国标准出版社
2014-04-15
现行
GB/T29851-2013
光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法
中国标准出版社
2014-04-15
现行
YS/T14-2015(2017年复审)
异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
2015-10-01
现行
GB/T12963-2014
电子级多晶硅
2015-09-01
现行
GB/T32573-2016
硅粉总碳含量的测定感应炉内燃烧后红外吸收法
2016-11-01
现行
GB/T29508-2013
300mm硅单晶切割片和磨削片
中国标准出版社
2014-02-01
现行
GB/T31854-2015
光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
中国标准出版社
2016-03-01
现行
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