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找到22条记录，共2页  
标准编号标准名称出版社发布日期状态
GB/T7289-2017 电学元器件可靠性失效率的基准条件和失效率转换的应力模型   2018-05-01
GB/T12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法 中国标准出版社 1992-04-01 现行
GB/T12993-1991 电子设备热性能评定 中国标准出版社 1992-04-01 现行
GB2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 中国标准出版社 1981-10-01 现行
GB/T15174-2017 可靠性增长大纲   2018-05-01
GB/T35320-2017 危险与可操作性分析（HAZOP分析）应用指南   2017-12-29
GB5080.5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案   1986-01-01 现行
GB2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) 中国标准出版社 1981-10-01 现行
GB/T9414.7-2000(2012) 设备维修性导则第四部分:诊断测试   2001-03-01
GB/T5081-1985 电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南   1986-01-01 现行
GB5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)   1986-01-01 现行
GB5080.7-1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 中国标准出版社 1987-10-01 现行
GB/T9414.1-2012 维修性第1部分:应用指南   2013-06-01 现行
GB/T34986-2017 产品加速试验方法   2018-05-01
GB/T34987-2017 威布尔分析   2018-05-01
GB/T7826-2012 系统可靠性分析技术失效模式和影响分析(FMEA)程序   2013-02-15 现行
GB2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) 中国标准出版社 1981-10-01 现行
GB2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) 中国标准出版社 1981-10-01 现行
GB/T5080.1-2012 可靠性试验第1部分:试验条件和统计检验原理   2013-02-15 现行
GB/T5080.2-2012/IEC605-2:1994 可靠性试验第2部分:试验周期设计   2013-02-15 现行
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